| 產(chǎn)地 | 美國(guó) |
|---|---|
| 類(lèi)型 | X熒光光譜儀 |
| 色散元件 | X熒光光譜儀 |
| 探測(cè)器類(lèi)型 | X熒光光譜儀 |
| 銷(xiāo)售方式 | 直銷(xiāo) |
| 種類(lèi) | X熒光光譜儀 |
| 執(zhí)行質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn) | 美標(biāo) |
| 貿(mào)易屬性 | 外貿(mào)+內(nèi)貿(mào) |
| 發(fā)貨期限 | 10天 |
| 品牌 | 美國(guó)艾克 |
| 型號(hào) | I-5000 |
| 加工定制 | 是 |
| 使用溫度范圍 | -45-50（℃） |
【聯(lián)系人：鐘生13377775524 Q3130093556】在合金分析分析應(yīng)用方面，I-5000是理想的牌號(hào)鑒定和質(zhì)量控制設(shè)備。
眾所周知，鈦合金質(zhì)輕、硬度強(qiáng)、耐高溫，主要應(yīng)用在軍事、航空航天、體育器材、醫(yī)療行業(yè)。鈦合金在這類(lèi)應(yīng)用程序中的組件通常是高保部件，無(wú)損檢測(cè)在這類(lèi)應(yīng)用中尤其重要。XRF熒光光譜儀可以快速、準(zhǔn)確的分析鈦系合金。
市場(chǎng)強(qiáng)大的分析工具
氦氣凈化探測(cè)儀增強(qiáng)對(duì)輕元素的檢測(cè)
開(kāi)放的自定義軟件
輕元素分析（可選）
樣品測(cè)試定位攝像頭（可選）
檢測(cè)能力
檢測(cè)范圍Cl（17）- U（92），可擴(kuò)展到Mg（12）- U（92）元素
檢測(cè)濃度低于10ppm（輕質(zhì)基體中的大多數(shù)元素），金屬合金<0.01%
X 射線產(chǎn)生器
X射線管陽(yáng)極Au 或Ag 靶管，空氣冷卻，其他靶管可選
X射線發(fā)生器4-40KV（可調(diào)步長(zhǎng)0.1KV）；
0-100μA（可調(diào)步長(zhǎng)0.2μA）；功率4W
穩(wěn)定性0.1% × 8小時(shí)以上
光束大小3 X 4 mm，（訂制可達(dá)10mm）
X 射線探測(cè)器
標(biāo)配探測(cè)器: Si-Pin (165 eV FWHM @ 5.9 kev),帶電子制冷，有效面積6 mm
鈹窗厚度:0.5 mil
可選探測(cè)器: 高性能SDD (<145 eV FWHM @5,95 keV)，有效面積25 mm
樣品室
尺寸/重量：標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試室：16” X 13” X 6.5”; 5.5kg
電 源：電池供電可達(dá)8小時(shí)
軟 件
操作系統(tǒng)PDA采用Windows CE/Mobile；自動(dòng)進(jìn)行光譜校正/調(diào)整；用戶自定義打印數(shù)據(jù)
數(shù)據(jù)采集時(shí)間：10-1200秒
光譜處理：譜峰自動(dòng)查找；譜峰去卷積；背景消除；元素自動(dòng)識(shí)別；背景之上的凈峰強(qiáng)度
算 法：采用基本參數(shù)法（FP），二次多項(xiàng)式逐步回歸分析法，手動(dòng)光譜比較法
控制控制：X 射線源輸出控制、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)參數(shù)設(shè)定、樣品及濾波片選擇（可選）
